日本AND分析天平BM-22是一種高精度的微量分析天平，它可以測量最小顯示精度為1微克（μg）的樣品重量。它具有以下特點：日本進口，所有部件均由A&D精密打造。采用后置式長力臂電磁傳感器，內部分辨率為1/25,000,000。 內藏校準砝碼，僅需按一下校準專用鍵（CAL）即可自動完成。全天候自動自我校準系統（Automatic Self Calibration）。配置不容易受風影響的網
BM 自動微量分析天平追求高精度計量：最高精度可達2500萬分之一，采用無風電離器和導電涂層的防風玻璃，解決靜電產生的問題。分析天平BM-252是一款穩定性高的微量分析天平，精度可達0.01mg，重復性0.03mg，穩定時間約8S。
日本AND分析天平FX-154電子天平量程150g，精度0.0001g。堅固的機身上殼采用鋁壓鑄，盤秤和機身下殼采用不銹鋼。這款天平兼具分析天平的精度和經濟性，性能可靠，適用于科研、質量控制和生產制造在內的各個領域，且價格實惠。
日本AND分析天平FX-254高精度穩定稱重，量程 252g、可讀性 0.1mg，配 C-SHS 超級混合傳感器，1.5 秒快速穩定，重復性≤±0.0001g，適配微量精密分析。
日本 AND GF?224A 電子分析天平 0.1mg萬分之一精度，稱量穩定精準，內置防風罩，抗干擾性強。適用于化工、制藥、食品、質檢、高校實驗室等樣品稱量、配比、檢測分析，操作便捷，數據可靠，滿足高精度稱量需求。
FX-154 萬分之一精密分析天平量程150g，精度是0.0001g。堅固的機身上殼采用鋁壓鑄，盤秤和機身下殼采用不銹鋼。這款天平兼具分析天平的精度和經濟性，性能可靠，適用于科研、質量控制和生產制造在內的各個領域，且價格實惠。
AND FX-254 高精度分析天平量程250g，精度是0.0001g。堅固的機身上殼采用鋁壓鑄，盤秤和機身下殼采用不銹鋼。這款天平兼具分析天平的精度和經濟性，性能可靠，適用于科研、質量控制和生產制造在內的各個領域，且價格實惠。
AND GF-224A 原料配比分析天平具有自動環境檢測功能，當環境溫度變化時自動校準，確保計量精度。（GX-AE）有內置無風靜電消除器，靜電消除速度是常規除電裝置的2保。
GF-224A 日本 AND 分析天平具有自動環境檢測功能，當環境溫度變化時自動校準，確保計量精度。（GX-AE）有內置無風靜電消除器，靜電消除速度是常規除電裝置的2保。
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